Catálogo Bibliográfico
Búsqueda por
tema:
Thin films—Optical properties.
| 1. | Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide / Harland G. Tompkins, William A. McGahan. | 1999 | Libro |
535
T662 |
| 2. | High-resolution X-ray scattering from thin films and multilayers / Václav Holý, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach. | 1999 | Libro |
HEMEROTECA
|
| 3. | Electron microdiffraction / J. C. H. Spence and J. M. Zuo. | 1992 | Libro |
537.533.35
S32 |
| 4. | Optics of thin films. — [reworked and supplemented ed.]. | 1960 | Libro |
535.31
V443 |
Búsqueda simple por palabras
Explorar índices alfabéticos
Búsqueda avanzada (combinando palabras en distintos campos)
Búsqueda en Catálogo CAC-CAE-SDIL (Enlace a Bibliotecas CNEA)
Recorrer el catálogo completo
(por orden de ubicación del material)
Búsqueda INIS
Este catálogo cuenta con
18.625 registros,
y fue actualizado el 28/06/2024 a las 02:23
OPACMARC
2008.12.01
· Desarrollado en la Biblioteca Dr. Antonio Monteiro, Instituto de Matemática de
Bahía Blanca (CONICET/UNS).
Este módulo integra el Sistema 