Catálogo Bibliográfico
Búsqueda por
tema:
Electron probe microanalysis.
| 1. | Quantitative electron-probe microanalysis. — 2nd ed. | 1995 | Libro |
537.533.35
S85 Ed. 2 |
| 2. | X-ray spectrometry in electron beam instruments / edited by David B. Williams, Joseph I. Goldstein, and Dale E. Newbury. | 1995 | Libro |
543.51
W671 |
| 3. | Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale E. Newbury ... [et al.]. | 1986 | Libro |
537.533.35
N428 |
Búsqueda simple por palabras
Explorar índices alfabéticos
Búsqueda avanzada (combinando palabras en distintos campos)
Búsqueda en Catálogo CAC-CAE-SDIL (Enlace a Bibliotecas CNEA)
Recorrer el catálogo completo
(por orden de ubicación del material)
Búsqueda INIS
Este catálogo cuenta con
18.625 registros,
y fue actualizado el 28/06/2024 a las 02:23
OPACMARC
2008.12.01
· Desarrollado en la Biblioteca Dr. Antonio Monteiro, Instituto de Matemática de
Bahía Blanca (CONICET/UNS).
Este módulo integra el Sistema 