QH212.S3 S29 2003
502/.8/25
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Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.].
— 3rd ed. — New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, c2003. xix, 689 p. : il. (some col.) ; 26 cm. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.)
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas.
ISBN 0306472929
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