Quantitative X-ray diffractometry
Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik.
New York : Springer, ©1995.
xvii, 372 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
ISBN: 0387945415 (hc : alk. paper)
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas (p. 355-364) e índice.