Título/responsables | Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik. |
Publicación |
New York : Springer, ©1995. |
Detalles físicos |
xvii, 372 págs. : ilustraciones ; 25 cm. |
Notas |
- Incluye índice.
- Incluye referencias bibliográficas (p. 355-364) e índice.
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ISBN |
0387945415 (hc : alk. paper) |
Temas |
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Nombres |
Zevin, Lev S. Kimmel, Giora. Mureinik, Inez. |
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