Zevin, Lev S.
Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik.
— New York : Springer, c1995. xvii, 372 p. : il. ; 25 cm.
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas (p. 355-364) e índice.
ISBN 0387945415 (hc alk. paper)
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