Catálogo Bibliográfico
Búsqueda por tema:
X-rays—Diffraction.
Resultado 2 de 10
| LDR | ·····cam##22·····#a#4500 |
| 001 | 010816 |
| 005 | 20060908082310.0 |
| 008 | 950504s1995####nyua#####b####001#0#eng## |
| 245 | 10 | $a Quantitative X-ray diffractometry / $c Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik. |
| 260 | ## | $a New York : $b Springer, $c c1995. |
| 300 | ## | $a xvii, 372 p. : $b il. ; $c 25 cm. |
| 020 | ## | $a 0387945415 (hc : alk. paper) |
| 100 | 1# | $a Zevin, Lev S. |
| 700 | 1# | $a Kimmel, Giora. |
| 700 | 1# | $a Mureinik, Inez. |
| 082 | 00 | $a 545/.81 $2 20 |
| 650 | #0 | $a X-rays $x Diffraction. |
| 650 | #0 | $a X-rays $x Diffraction $x Industrial applications. |
| 504 | ## | $a Incluye referencias bibliográficas (p. 355-364) e índice. |
| 040 | ## | $a DLC $c DLC $d DLC $b spa $d arbccab |
| 500 | ## | $a Incluye índice. |
Búsqueda simple por palabras
Explorar índices alfabéticos
Búsqueda avanzada (combinando palabras en distintos campos)
Búsqueda en Catálogo CAC-CAE-SDIL (Enlace a Bibliotecas CNEA)
Recorrer el catálogo completo
(por orden de ubicación del material)
Búsqueda INIS
Este catálogo cuenta con
18.625 registros,
y fue actualizado el 28/06/2024 a las 02:23
OPACMARC
2008.12.01
· Desarrollado en la Biblioteca Dr. Antonio Monteiro, Instituto de Matemática de
Bahía Blanca (CONICET/UNS).
Este módulo integra el Sistema 