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Búsqueda por tema: X-rays—Diffraction.
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Título/responsablesQuantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik.
Publicación New York : Springer, ©1995.
Detalles físicos xvii, 372 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
Notas
  • Incluye índice.
  • Incluye referencias bibliográficas (p. 355-364) e índice.
ISBN 0387945415 (hc : alk. paper)
Temas
Nombres Zevin, Lev S.
Kimmel, Giora.
Mureinik, Inez.
  
UBICACION
548.73 Z6
 
LIBRERÍAS
Amazon.com
Barnes & Noble
Registro 010816  ·  Modificado: 08/09/2006

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