Catálogo Biblioteca Leo Falicov

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Búsqueda por tema: X-rays—Diffraction.

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Título/responsables	High-resolution X-ray scattering from thin films and multilayers / Václav Holý, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach.
Publicación	Berlin ; New York : Springer, ©1999.
Detalles físicos	xi, 256 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
Colección	Springer tracts in modern physics, ISSN 0081-3869 ; v. 149
Notas	Incluye índice. Incluye referencias bibliográficas.
ISBN	354062029X (hardcover : alk. paper)
Temas	Thin films—Optical properties. Thin films, Multilayered—Optical properties. X-rays—Scattering. X-rays—Diffraction.
Nombres	Holý, Václav, 1953- Pietsch, Ullrich, 1952- Baumbach, Tilo, 1961-

Registro 012896 · Modificado: 22/10/2008

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