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Transmission electron microscopy.
Resultado 3 de 9
| LDR | ·····cam##22·····4a#4500 |
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| 245 | 10 | $a Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / $c Brent Fultz, James Howe. |
| 250 | ## | $a 2nd ed. |
| 260 | ## | $a Berlin ; $a New York : $b Springer, $c c2002. |
| 300 | ## | $a xxi, 748 p. : $b il. ; $c 24 cm. |
| 020 | ## | $a 3540437649 (alk. paper) |
| 100 | 1# | $a Fultz, B. $q (Brent) |
| 700 | 1# | $a Howe, James M., $d 1955- |
| 082 | 00 | $a 620.1/1299 $2 21 |
| 650 | #0 | $a Materials $x Microscopy. |
| 650 | #0 | $a Transmission electron microscopy. |
| 650 | #0 | $a X-ray diffractometer. |
| 650 | #7 | $a Microscopía electrónica por transmisión. $2 inist |
| 650 | #7 | $a Difractómetros de rayos X. $2 inist |
| 010 | ## | $a ##2002070720 |
| 050 | 00 | $a TA417.23 $b .F85 2002 |
| 504 | ## | $a Incluye referencias bibliográficas. |
| 040 | ## | $a DLC $c DLC $d DLC $b spa $d arbccab |
| 500 | ## | $a Incluye índice. |
| 856 | 41 | $3 Indice $u http://campi.cab.cnea.gov.ar/tocs/19990.pdf |
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