TA417.23 .F85 2002
620.1/1299
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Fultz, B. (Brent)
Transmission electron microscopy and diffractometry of materials / Brent Fultz, James Howe.
— 2nd ed. — Berlin ; New York : Springer, c2002. xxi, 748 p. : il. ; 24 cm.
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas.
ISBN 3540437649 (alk. paper)
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