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Búsqueda por tema: Electron microscopy—Congresses.
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245 00 $a Diffraction and imaging techniques in material science / $c editors, Severin Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt.
250 ## $a 2nd, rev. ed.
260 ## $a Amsterdam ; $a New York : $b North-Holland Pub. Co. : sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier North-Holland, $c 1978.
300 ## $a 2 v. (xvii, 847 p., [1] fold. leaf of plates) : $b il. ; $c 23 cm.
505 0# $a v. 1. Electron microscopy. -- v. 2. Imaging and diffraction techniques.
504 ## $a Incluye referencias bibliográficas.
500 ## $a Comprises new contributions and revised and updated papers originally presented at the International Summer Course on Material Science, Antwerp, 1969, and published in 1970 under title: Modern diffraction and imaging techniques in material science.
500 ## $a 2 ejs. de c/vol.
500 ## $a Incluye índice.
020 ## $a 0444851305
700 1# $a Amelinckx, Severin.
700 1# $a Gevers, R.
700 1# $a Landuyt, J. van.
711 2# $a International Summer Course on Material Science $d (1969 : $c Antwerp, Belgium). $t Modern diffraction and imaging techniques in material science.
082 00 $a 620.1/127
650 #0 $a Electron microscopy $v Congresses.
650 #0 $a Electrons $x Diffraction $v Congresses.
650 #0 $a Imaging systems $v Congresses.
010 ## $a ###78022081#
050 00 $a TA417.23 $b .D54 1978
040 ## $a DLC $c DLC $d ICU $d DLC $b spa $d arbccab

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