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Búsqueda por tema: Electron microscopy—Congresses.

Resultado 6 de 8

Título/responsables	Diffraction and imaging techniques in material science / editors, Severin Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt.
Edición	2nd, rev. ed.
Publicación	Amsterdam ; New York : North-Holland Pub. Co. : sole distributors for the U.S.A. and Canada, Elsevier North-Holland, 1978.
Detalles físicos	2 vols. (xvii, 847 págs., [1] fold. leaf of plates) : ilustraciones ; 23 cm.
Notas	Comprises new contributions and revised and updated papers originally presented at the International Summer Course on Material Science, Antwerp, 1969, and published in 1970 under title: Modern diffraction and imaging techniques in material science. 2 ejs. de c/vol. Incluye índice. Incluye referencias bibliográficas.
Contenido	v. 1. Electron microscopy. v. 2. Imaging and diffraction techniques.
ISBN	0444851305
Temas	Electron microscopy—Congresses. Electrons—Diffraction—Congresses. Imaging systems—Congresses.
Nombres	Amelinckx, Severin. Gevers, R. Landuyt, J. van.
Reunión

Registro 004748 · Modificado: 15/03/2023

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