Catálogo Bibliográfico
Búsqueda por tema:
Electron microscopy—Congresses.
Resultado 1 de 8
| LDR | ·····cam##22·····Ia#4500 |
| 001 | 009101 |
| 005 | 20060803130639.0 |
| 008 | 040910s2004####enka##########100#0#eng#d |
| 245 | 10 | $a International Symposium on In-situ Electron Microscopy : $b Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 / $c guest editor, H. Saka. |
| 260 | ## | $a Abingdon, UK : $b Taylor & Francis, $c c2004. |
| 300 | ## | $a p. 2595-2828 : $b il. (some col.) ; $c 25 cm. |
| 504 | ## | $a Incluye referencias bibliográficas. |
| 111 | 2# | $a International Symposium on In-situ Electron Microscopy $d (2003 : $c Nagoya-shi, Japan) |
| 700 | 1# | $a Saka, H. $q (Hiroyasu) |
| 730 | 0# | $a Philosophical magazine (Abingdon, England). $n V. 84, no. 25-26. |
| 246 | 30 | $a In-situ Electron Microscopy |
| 650 | #0 | $a Electron microscopy $v Congresses. |
| 490 | 1# | $a Philosophical magazine. structure and properties of condensed matter ; $v v. 84, no. 25-26 (2004 Set. 1-11). |
| 040 | ## | $a HNK $c HNK $d OCL $b spa $d arbccab |
| 500 | ## | $a "Special issue." |
| 500 | ## | $a Cover title. |
Búsqueda simple por palabras
Explorar índices alfabéticos
Búsqueda avanzada (combinando palabras en distintos campos)
Búsqueda en Catálogo CAC-CAE-SDIL (Enlace a Bibliotecas CNEA)
Recorrer el catálogo completo
(por orden de ubicación del material)
Búsqueda INIS
Este catálogo cuenta con
18.630 registros,
y fue actualizado el 07/07/2024 a las 02:20
OPACMARC
2008.12.01
· Desarrollado en la Biblioteca Dr. Antonio Monteiro, Instituto de Matemática de
Bahía Blanca (CONICET/UNS).
Este módulo integra el Sistema 