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Búsqueda por tema: Electron microscopy—Congresses.
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Título/responsablesInternational Symposium on In-situ Electron Microscopy : Nagoya, Japan, 20-22 January 2003 / guest editor, H. Saka.
Publicación Abingdon, UK : Taylor & Francis, ©2004.
Detalles físicos p. 2595-2828 : ilustraciones (some col.) ; 25 cm.
ColecciónPhilosophical magazine. structure and properties of condensed matter ; v. 84, no. 25-26 (2004 Set. 1-11).
Notas
  • "Special issue."
  • Cover title.
  • Incluye referencias bibliográficas.
Temas
Nombres Saka, H. (Hiroyasu)
Reunión International Symposium on In-situ Electron Microscopy (2003 : Nagoya-shi, Japan)
  
UBICACION
PHIL. MAG. 2004 
Registro 009101  ·  Modificado: 03/08/2006

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