Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM
Ray F. Egerton.
New York, NY : Springer, ©2005.
xii, 202 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
ISBN: , 0387258000
Incluye índice.
Bibliografía: p. [195]-196.
Catálogo Bibliográfico
New York, NY : Springer, ©2005.
xii, 202 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
ISBN: , 0387258000
Incluye índice.
Bibliografía: p. [195]-196.