Egerton, R. F.
Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM / Ray F. Egerton.
— New York, NY : Springer, c2005. xii, 202 p. : il. ; 25 cm.
Incluye índice.
Bibliografía: p. [195]-196.
ISBN 9780387258000. — ISBN 0387258000
|