Catálogo Biblioteca Leo Falicov

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Búsqueda por tema: Detectors—Congresses.

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Título/responsables	SPM 2000 : proceedings of the second International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures : Heidelberg, Germany, May 28-31, 2000 / guest editor, David P. Allison.
Publicación	Amsterdam ; New York : Elsevier, 2001.
Detalles físicos	xii, 254 págs. : ilustraciones ; 26 cm.
Colección	Ultramicroscopy ; v. 86, nos. 1/2
Notas	Incluye referencias bibliográficas.
Temas	Scanning probe microscopy—Congresses. Detectors—Congresses. Nanostructures—Congresses.
Nombres	Allison, David P.
Reunión	International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures (2nd : 2000 : Heidelberg, Germany)
Títulos alt.	Scanning probe microscopy, sensors & nanostructures

UBICACION
ULTRAMICROSCOPY 2001

Registro 008137 · Modificado: 21/07/2006

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