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Scanning electron microscopy.
Resultado 5 de 5
| LDR | ·····cam##22·····#a#4500 |
| 001 | 000084 |
| 005 | 20100827155554.0 |
| 008 | 851115s1986####nyua###f######001#0#eng#c |
| 245 | 00 | $a Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / $c Dale E. Newbury ... [et al.]. |
| 260 | ## | $a New York : $b Plenum Press, $c c1986. |
| 300 | ## | $a xii, 454 p. : $b il. (algunas col.) ; $c 24 cm. |
| 504 | ## | $a Bibliografía: p. 435-448. |
| 020 | ## | $a 0306421402 |
| 700 | 1# | $a Newbury, Dale E. |
| 080 | ## | $a 537.533.35 |
| 650 | #0 | $a Scanning electron microscopy. |
| 650 | #0 | $a X-ray microanalysis. |
| 650 | #2 | $a Electron Probe Microanalysis. |
| 650 | #2 | $a Microscopy, Electron, Scanning. |
| 650 | #7 | $a Microscopía electrónica por barrido. $2 inist |
| 650 | #7 | $a Microanálisis. $2 inist |
| 040 | ## | $a DNLM/DLC $c DLC $d DLC $b spa $d arbccab |
| 500 | ## | $a Incluye índice. |
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