Defect and microstructure analysis by diffraction
Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge.
Oxford ; New York : Oxford University Press, 1999.
xxii, 785 págs. : ilustraciones ; 24 cm.
Serie: International Union of Crystallography monographs on crystallography ; 10
ISBN: 0198501897 (Hbk : acid-free paper)
Incluye referencias bibliográficas e índice.
