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Búsqueda por tema: Diffraction.
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Título/responsablesDefect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge.
Publicación Oxford ; New York : Oxford University Press, 1999.
Detalles físicos xxii, 785 págs. : ilustraciones ; 24 cm.
ColecciónInternational Union of Crystallography monographs on crystallography ; 10
Notas
  • Incluye referencias bibliográficas e índice.
ISBN 0198501897 (Hbk : acid-free paper)
Temas
Nombres Snyder, R. L. (Robert L.), 1941-
Fiala, Jaroslav.
Bunge, H.-J. (Hans Joachim)
  
UBICACION
548 S91
 
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Registro 015699  ·  Modificado: 04/08/2009

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