Catálogo Bibliográfico
Advanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale E. Newbury ... [et al.]. — New York : Plenum Press, c1986.
xii, 454 p. : il. (algunas col.) ; 24 cm.
Incluye índice.
Bibliografía: p. 435-448.
ISBN 0306421402
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