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Búsqueda por tema: Electron probe microanalysis.
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Título/responsablesAdvanced scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Dale E. Newbury ... [et al.].
Publicación New York : Plenum Press, ©1986.
Detalles físicos xii, 454 págs. : ilustraciones (algunas col.) ; 24 cm.
Notas
  • Incluye índice.
  • Bibliografía: p. 435-448.
ISBN 0306421402
Temas
Nombres Newbury, Dale E.
  
UBICACION
537.533.35 N428
 
LIBRERÍAS
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Barnes & Noble
Registro 000084  ·  Modificado: 27/08/2010

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