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Búsqueda por autor: Humphreys, F. J.
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Título/responsablesElectron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland.
Edición 3rd ed.
Publicación London ; New York : Taylor & Francis, ©2001.
Detalles físicos x, 251 págs. : ilustraciones ; 24 cm.
Notas
  • Incluye referencias bibliográficas (p. [236]-237) e índice.
Resumen Electron Microscopy and Analysis deals with several sophisticated techniques for magnifying images of very small objects by large amounts - especially in a physical science context. It has been ten years since the last edition of Electron Microscopy and Analysis was published and there have been rapid changes in this field since then. The authors have vastly updated their very successful second edition, which is already established as an essential laboratory manual worldwide, and they have incorporated questions and answers in each chapter for ease of learning. Equally as relevant for material scientists and bioscientists, this third edition is an essential textbook.
ISBN 9780748409686
Temas
Nombres Goodhew, Peter J.
Humphreys, F. J.
Beanland, R.
  
UBICACION
537.533.35 G618 Ed.3
 
ENLACES
Tapa
Índice
Registro 020343  ·  Modificado: 19/04/2023

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