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Búsqueda por autor: International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures (1st : 1999 : Seattle)

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Título/responsables	SPM '99 : proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures, Seattle, USA, May-June1, 1999 / guest editor, J.K. Heinrich Hörber.
Publicación	Amsterdam : Elsevier, 2000.
Detalles físicos	xiii, 314 págs. : ilustraciones (some col.) ; 27 cm.
Notas	Issued as: Ultramicroscopy, v. 82, nos. 1-4 (Feb. 2000). Incluye indices. Incluye referencias bibliográficas.
Temas	Scanning probe microscopy—Congresses. Detectors—Congresses. Nanostructures—Congresses.
Nombres	Hörber, J. K. Heinrich.
Reunión	International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures (1st : 1999 : Seattle)
Títulos alt.	Scanning probe microscopy, cantilever sensors & nanostructures

UBICACION
ULTRAMICROSCOPY 2000

Registro 008128 · Modificado: 21/07/2006

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