SPM '99 : proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures, Seattle, USA, May-June1, 1999

guest editor, J.K. Heinrich Hörber.

Amsterdam : Elsevier, 2000.

xiii, 314 págs. : ilustraciones (some col.) ; 27 cm.

Título de cubierta: Scanning probe microscopy, cantilever sensors & nanostructures

Issued as: Ultramicroscopy, v. 82, nos. 1-4 (Feb. 2000).

Incluye indices.

Incluye referencias bibliográficas.