SPM 2000 : proceedings of the second International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures : Heidelberg, Germany, May 28-31, 2000

guest editor, David P. Allison.

Amsterdam ; New York : Elsevier, 2001.

xii, 254 págs. : ilustraciones ; 26 cm.

Serie: Ultramicroscopy ; v. 86, nos. 1/2

Título de cubierta: Scanning probe microscopy, sensors & nanostructures

Incluye referencias bibliográficas.