Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE)

edited by Sven A. E. Johansson, John Campbell, Klas G. Malmqvist.

New York : Wiley, ©1995.

xxiii, 451 págs. : ilustraciones, maps ; 24 cm.

Serie: Chemical analysis ; v. 133

ISBN: 0471589446 (acid-free paper)

"A Wiley-Interscience publication."

Incluye índice.

Incluye referencias bibliográficas.