Particle-induced X-ray emission spectrometry (PIXE) / edited by Sven A. E. Johansson, John Campbell, Klas G. Malmqvist.
— New York : Wiley, c1995. xxiii, 451 p. : il., maps ; 24 cm. — (Chemical analysis ; v. 133)
"A Wiley-Interscience publication."
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas.
ISBN 0471589446 (acid-free paper)
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