Título/responsables | Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge. |
Publicación |
Oxford ; New York : Oxford University Press, 1999. |
Detalles físicos |
xxii, 785 págs. : ilustraciones ; 24 cm. |
Colección | International Union of Crystallography monographs on crystallography ; 10
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Notas |
- Incluye referencias bibliográficas e índice.
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ISBN |
0198501897 (Hbk : acid-free paper) |
Temas |
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Nombres |
Snyder, R. L. (Robert L.), 1941-
Fiala, Jaroslav. Bunge, H.-J. (Hans Joachim) |
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