Catálogo Bibliográfico

Búsqueda por autor: Universiteit van Amsterdam.
Estilo:
Se encontró este único registro
 
LDR ·····cam##22·····Ia#4500
001 007962
005 20060720084231.0
008 830414s1983####ne#a#####b####101#0#eng#d
245 10 $a Proceedings of the 12th International Conference on Defects in Semiconductors : $b 31 August-3 September 1982, Amsterdam, The Netherlands / $c edited by C.A.J. Ammerlaan.
260 ## $a Amsterdam : $b North-Holland, $c 1983.
300 ## $a xiv, 661 p. : $b il. ; $c 26 cm.
504 ## $a Incluye referencias bibliográficas e índice.
111 2# $a International Conference on Defects in Semiconductors $n (12th : $d 1982 : $c Amsterdam, The Netherlands)
710 2# $a European Physical Society.
710 2# $a International Union of Pure and Applied Physics.
710 2# $a Nederlandse Natuurkundige Vereniging.
710 2# $a Universiteit van Amsterdam.
650 #0 $a Semiconductors $x Defects $v Congresses.
700 1# $a Ammerlaan, C. A. J. $q (Cornelis Antonius Josephus) $4 edt
490 1# $a Physica BC 1983 ; $v v. 116
040 ## $a XER $c XER $d OCL $d NLGGC $b spa $d arbccab
500 ## $a Conference sponsored by the International Union of Pure and Applied Physics, the European Physical Society, the Netherlands' Physical Society, and the University of Amsterdam.

Explorar índices alfabéticos


Ingrese las primeras letras del autor o título que busca. Omita artículos iniciales en títulos.
Búsqueda avanzada (combinando palabras en distintos campos)
Búsqueda en Catálogo CAC-CAE-SDIL (Enlace a Bibliotecas CNEA)
Recorrer el catálogo completo (por orden de ubicación del material)


Biblioteca Leo Falicov - Av. Bustillo Km 9,500 (R8402AGP) San Carlos de Bariloche, R.N. | ARGENTINA | Tel +54 294 4445195
http://biblioteca.cab.cnea.gov.ar - biblio@cab.cnea.gov.ar