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Búsqueda por tema: X-ray diffraction.
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Resultado 2 de 7
 
Título/responsablesIntroduction to the characterization of residual stress by neutron diffraction / M.T. Hutchings ... [et al.].
Publicación Boca Raton, FL : Taylor & Francis, 2005.
Detalles físicos 401 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
Notas
  • Incluye referencias bibliográficas.
ISBN 0415310008 (alk. paper)
Temas
Nombres Hutchings, Michael T.
  
UBICACION
620.1 H97
 
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Registro 014213  ·  Modificado: 06/03/2013

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