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Búsqueda por tema: Spectrometry, X-Ray Emission.
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Título/responsablesAdvances in x-ray analysis. Volume 15 : proceedings of the twentieth annual Conference on Applications of X-Ray Analysis, held August 11-13, 1971 / edited by Kurt F.J. Heinrich, Charles Sanborn Barrett, John B. Newkirk, and Clayton O. Ruud ; sponsored by University of Denver, Denver Research Institute, Metallurgy and Materials Science Division.
Publicación New York : Plenum Press, 1972.
Detalles físicos xii, 573 págs. : ilustraciones ; 26 cm.
Temas
  • Radiation, Ionizing—methods.
  • X-Ray Diffraction.
  • Spectrometry, X-Ray Emission.
Nombres Heinrich, Kurt F. J.
Barrett, Charles S.
Newkirk, John B.
Ruud, C. O.
Entidades Denver Research Institute. Metallurgy and Materials Sciences Division.
  
UBICACION
543.422.8:061.3 C76 1971
Registro 006833  ·  Modificado: 15/03/2023

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