High-resolution X-ray scattering from thin films and multilayers
Václav Holý, Ullrich Pietsch, Tilo Baumbach.
Berlin ; New York : Springer, ©1999.
xi, 256 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
Serie: Springer tracts in modern physics, 0081-3869 ; v. 149
ISBN: 354062029X (hardcover : alk. paper)
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas.