Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Joseph I. Goldstein ... [et al.].
3rd ed.
New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers, ©2003.
xix, 689 págs. : ilustraciones (some col.) ; 26 cm. + 1 CD-ROM (4 3/4 in.)
ISBN: 0306472929
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas.