Título/responsables | Particle characterization in technology / editor, John Keith Beddow. |
Publicación |
Boca Raton, Fla. : CRC Press, ©1984. |
Detalles físicos |
2 vols. : ilustraciones (some col.) ; 27 cm. |
Colección | CRC series on fine particle science and technology Uniscience series on fine particle science and technology
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Notas |
- Incluye indices.
- Incluye referencias bibliográficas.
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Contenido |
- v. 1. Applications and microanalysis
- v. 2. Morphological analysis.
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ISBN |
0849357845 (v. 1); 0849357853 (v. 2) |
Temas |
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Nombres |
Beddow, John K. |
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