Título/responsables | SPM '99 : proceedings of the International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures, Seattle, USA, May-June1, 1999 / guest editor, J.K. Heinrich Hörber. |
Publicación |
Amsterdam : Elsevier, 2000. |
Detalles físicos |
xiii, 314 págs. : ilustraciones (some col.) ; 27 cm. |
Notas |
- Issued as: Ultramicroscopy, v. 82, nos. 1-4 (Feb. 2000).
- Incluye indices.
- Incluye referencias bibliográficas.
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Temas |
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Nombres |
Hörber, J. K. Heinrich. |
Reunión |
International Conference on Scanning Probe Microscopy, Cantilever Sensors and Nanostructures (1st : 1999 : Seattle) |
Títulos alt. | Scanning probe microscopy, cantilever sensors & nanostructures |
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