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X-ray microanalysis—Congresses.
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| LDR | ·····cam##22·····Ia#4500 |
| 001 | 008871 |
| 005 | 20230726153617.0 |
| 008 | 810415s1981####ne#######b####101#0#eng#d |
| 245 | 10 | $a Particle induced x-ray emission and its analytical applications : $b proceedings of the 2nd International Conference on PIXE and Its Analytical Applications, Lund, Sweden, June 9-12, 1980 / $c editor, Sven A. E. Johansson. |
| 260 | ## | $a Amsterdam : $b North-Holland, $c 1981. |
| 300 | ## | $a xv, 546 p. : $b il. ; $c 27 cm. |
| 490 | 1# | $a Nuclear instruments & methods, $v v. 181 $x 0029-554X ; |
| 504 | ## | $a Incluye referencias bibliográficas. |
| 500 | ## | $a Incluye índice. |
| 111 | 2# | $a International Conference on Particle Induced X-ray Emission and Its Analytical Applications $n (2nd : $d 1980 : $c Lund, Sweden) |
| 700 | 1# | $a Johansson, Sven A. E. |
| 080 | ## | $a 543.422.8:061.3 |
| 650 | #0 | $a X-ray microanalysis $v Congresses. |
| 650 | #0 | $a X-ray spectroscopy $v Congresses. |
| 040 | ## | $a IWA $c IWA $d OCL $b spa $d arbccab |
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