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Scanning electron microscope.
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Electron backscatter diffraction in materials science
/ [edited by] Adam Schwartz, Mukul Kumar, David Field.
Edición
2nd ed.
Publicación
New York : Springer, 2009.
Detalles físicos
403 págs. : ilustraciones byn ; 26 cm.
Notas
Incluye referencias bibliográficas e índice.
ISBN
9780387881355 (alk. paper)
Temas
Backscattering.
Electron diffraction.
Scanning electron microscope.
Difracción electrónica.
Microscopía electrónica de barrido.
Retrodispersión.
Scanning electron microscope.
UBICACION
537.533.35 S91 Ed.2
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Registro 015945 · Modificado: 25/03/2010
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