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Thin films—Optical properties.
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Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide
/ Harland G. Tompkins, William A. McGahan.
Publicación
New York : Wiley, ©1999.
Detalles físicos
xiv, 228 págs. : ilustraciones ; 24 cm.
Notas
"A Wiley-Interscience publication."
Incluye índice.
Incluye referencias bibliográficas.
ISBN
0471181722 (cloth : acid-free paper)
Temas
Ellipsometry.
Reflectometer.
Materials—Optical properties.
Thin films—Optical properties.
Surfaces (Technology)
Elipsometría.
Nombres
Tompkins, Harland G.
McGahan, William A., 1966-
UBICACION
535 T662
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Registro 012993 · Modificado: 04/01/2010
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