Catálogo Bibliográfico
Búsqueda por autor:
Symposium D on Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors (1990 : Strasbourg, France)
Se encontró este único registro
| LDR | ·····cam##22·····#a#4500 |
| 001 | 007536 |
| 005 | 20060714093819.0 |
| 008 | 910507s1991####ne#a#####b####101#0#eng## |
| 245 | 10 | $a Analytical techniques for the characterization of compound semiconductors : $b proceedings of Symposium D on Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors of the 1990 E-MRS Fall Conference, Strasbourg, France, November 27-30, 1990 / $c [edited by] G. Bastard and H. Oppolzer. |
| 260 | ## | $a Amsterdam : $b North-Holland, $c 1991. |
| 300 | ## | $a 537 p. : $b il., tablas ; $c 24 cm. |
| 504 | ## | $a Incluye referencias bibliográficas e índice. |
| 111 | 2# | $a Symposium D on Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors $d (1990 : $c Strasbourg, France) |
| 700 | 1# | $a Bastard, Gerald. |
| 700 | 1# | $a Oppolzer, Helmut. |
| 080 | ## | $a 621.382:061.3 |
| 080 | ## | $a 538.935:061.3 |
| 650 | #0 | $a Semiconductors $x Analysis $v Congresses. |
| 650 | #0 | $a Semiconductors $x Optical properties $v Congresses. |
| 049 | ## | $a AR5A |
| 490 | 1# | $a Applied Surface Science 1991 ; $v v. 50, no. 1-4 |
| 040 | ## | $a DLC $c DLC $d OCL $d NLGGC $b spa $d arbccab |
Búsqueda simple por palabras
Explorar índices alfabéticos
Búsqueda avanzada (combinando palabras en distintos campos)
Búsqueda en Catálogo CAC-CAE-SDIL (Enlace a Bibliotecas CNEA)
Recorrer el catálogo completo
(por orden de ubicación del material)
Búsqueda INIS
Este catálogo cuenta con
18.630 registros,
y fue actualizado el 16/07/2024 a las 02:12
OPACMARC
2008.12.01
· Desarrollado en la Biblioteca Dr. Antonio Monteiro, Instituto de Matemática de
Bahía Blanca (CONICET/UNS).
Este módulo integra el Sistema 