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Búsqueda por autor: Symposium D on Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors (1990 : Strasbourg, France)

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Título/responsables	Analytical techniques for the characterization of compound semiconductors : proceedings of Symposium D on Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors of the 1990 E-MRS Fall Conference, Strasbourg, France, November 27-30, 1990 / [edited by] G. Bastard and H. Oppolzer.
Publicación	Amsterdam : North-Holland, 1991.
Detalles físicos	537 págs. : ilustraciones, tablas ; 24 cm.
Colección	Applied Surface Science 1991 ; v. 50, no. 1-4
Notas	Incluye referencias bibliográficas e índice.
Temas	Semiconductors—Analysis—Congresses. Semiconductors—Optical properties—Congresses.
Nombres	Bastard, Gerald. Oppolzer, Helmut.
Reunión	Symposium D on Analytical Techniques for the Characterization of Compound Semiconductors (1990 : Strasbourg, France)

UBICACION
APPL. SURF. SCI. 1991

Registro 007536 · Modificado: 14/07/2006

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