Catálogo Biblioteca Leo Falicov

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Búsqueda por autor: National Science Foundation (U.S.) 010733

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Título/responsables	Ion beam surface layer analysis ; proceedings of the International Conference held on June 18-20, 1973, in Yorktown Heights, N.Y., and sponsored by the National Science Foundation and the IBM Corporation / Edited by: James W. Mayer and James F. Ziegler.
Publicación	Lausanne : Elsevier Sequoia S.A., 1974.
Detalles físicos	viii, 463 págs. : ilustraciones ; 25 cm.
Notas	"These proceedings were originally published in Thin solid films." Incluye referencias bibliográficas.
ISBN	044419536X
Temas	Thin films—Congresses.
Nombres	Mayer, James W. Ziegler, James F.
Entidades	National Science Foundation (U.S.) International Business Machines Corporation.
Reunión	International Conference on Ion Beam Surface Layer Analysis (1st : 1973 : Yorktown Heights, N.Y.)

Registro 006699 · Modificado: 20/09/2022

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