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Búsqueda por autor: American Society for Testing and Materials.
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LDR ·····cam##22·····#a#4500
001 006532
005 20061124103258.0
008 710521s1970####dcua#####b####100#0#eng##
245 10 $a Silicon device processing ; $b proceedings / $c Charles P. Marsden, editor.
260 ## $a Washington : $b U.S. National Bureau of Standards; for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off., $c 1970.
300 ## $a x, 457 p. : $b il. ; $c 27 cm.
490 1# $a NBS special publication ; $v 337
504 ## $a Incluye referencias bibliográficas.
111 2# $a Symposium on Silicon Device Processing $d (1970 : $c Gaithersburg, Md.)
700 1# $a Marsden, Charles P., $e ed.
710 2# $a American Society for Testing and Materials. $b Committee F-1 on Materials for Electron Devices and Microelectronics.
810 1# $a United States. $b National Bureau of Standards. $t Special publication $v 337.
082 00 $a 621.3815/2 $2 19
086 ## $a C 13.10:337
650 #0 $a Silicon $v Congresses.
010 ## $a ###74608543#
029 ## $a NLGGC $b 780563670
050 00 $a QC100 $b .U57 no. 337
049 ## $a AR5A
040 ## $a DLC $c DLC $d OCL $d DNU $d OCLCQ $b spa $d arbccab
500 ## $a "A United States Department of Commerce publication."
500 ## $a "CODEN: XNBSA."
500 ## $a "Held ... under the sponsorship of Committee F-1 of the American Society for Testing and Materials and the National Bureau of Standards."

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