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Búsqueda por autor: American Society for Testing and Materials.
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Título/responsablesSilicon device processing ; proceedings / Charles P. Marsden, editor.
Publicación Washington : U.S. National Bureau of Standards; for sale by the Supt. of Docs., U.S. Govt. Print. Off., 1970.
Detalles físicos x, 457 págs. : ilustraciones ; 27 cm.
ColecciónNBS special publication ; 337
Notas
  • "A United States Department of Commerce publication."
  • "CODEN: XNBSA."
  • "Held ... under the sponsorship of Committee F-1 of the American Society for Testing and Materials and the National Bureau of Standards."
  • Incluye referencias bibliográficas.
Temas
Nombres Marsden, Charles P.
Entidades American Society for Testing and Materials. Committee F-1 on Materials for Electron Devices and Microelectronics.
Reunión Symposium on Silicon Device Processing (1970 : Gaithersburg, Md.)
  
UBICACION
621.382:061.3 S68 1970
Registro 006532  ·  Modificado: 24/11/2006

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